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掃描探針近場光譜分析系統
TECHNICAL ARTICLES
近場光譜影像分析系統助力光學傳感器發展
產品展示/ Product display
近場光譜分析系統UniDRON-Nano—— 系統結合后保留原有AFM之功能 可結合之光譜包含拉曼、紅外光、太赫茲光、熒光與時間解析熒光光譜 可建立正立或倒立以及同時正倒立顯微鏡 雷射照射方式: 穿透、反射以及側向激發 可同時進行多點探針掃描
2024-09-09
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